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如何確保IC封裝/PC電路板設(shè)計(jì)的散熱完整性?

發(fā)布時(shí)間 :2017-09-13 16:40 閱讀 : 來源 :技術(shù)文章責(zé)任編輯 :深圳宏力捷PCB設(shè)計(jì)部
電路板設(shè)計(jì)人員制作了專業(yè)設(shè)計(jì)的模擬電路板(breadboard),并且在進(jìn)行配置前完成所有必須的模擬,也參考了制造商為達(dá)到該封裝的良好散熱效能所提供的設(shè)計(jì)技巧建議,甚至以紙筆仔細(xì)計(jì)算初步散熱分析等式,以確保電路板在維持適當(dāng)容限時(shí)能不超過IC接點(diǎn)溫度。但當(dāng)開啟電源的時(shí)候,IC摸起來的溫度仍舊相當(dāng)高。對于這樣的結(jié)果不滿意(散熱專家和可靠性專業(yè)人員勢必也會(huì)有所顧慮),設(shè)計(jì)人員應(yīng)該怎么辦?
 
就整體設(shè)計(jì)的可靠度而言,使IC接點(diǎn)的溫度低于絕對上限以便在環(huán)境溫度升高時(shí)保有電路設(shè)計(jì)的完整性,絕對是重要的設(shè)計(jì)考量。尤其在電路設(shè)計(jì)中,當(dāng)設(shè)計(jì)人員不斷挑戰(zhàn)某些核心晶片的功耗上限(PD MAX)時(shí),情況更是如此。
 
電網(wǎng)的Theta-JA類比圖
圖 1:電網(wǎng)的Theta-JA類比圖。
 
Theta-JA 解說。
圖 2:Theta-JA 解說。
 
分析散熱完整性的第一步是深入了解IC封裝散熱指標(biāo)的基本面。目前最常用來測量封裝散熱效能的方式是Theta JA值,這是從接點(diǎn)到環(huán)境所測得(或說形成)的熱阻(圖1)。Theta JA值最常被拿來解析(圖2)。測量和計(jì)算Theta JA時(shí),影響較大的因素包括以下幾項(xiàng):
 
?掛載電路板:是/否?
?跡線:尺寸、構(gòu)成方式、厚度和體積
?方向:水平或垂直?
?環(huán)境:數(shù)量
?鄰近程度:受測的裝置附近是否有其他任何表面?
 
采用全新JEDEC標(biāo)淮的導(dǎo)線表面黏著封裝如今也具備熱阻(Theta JA)資料,并且已針對多種封裝產(chǎn)生實(shí)際資料,同時(shí)在其他封裝執(zhí)行散熱模型。這些資料是根據(jù)封裝的種類進(jìn)行分組,并依照不同的空氣流通程度顯示其Theta JA值。
 
Theta-JC 解說。
圖 3:Theta-JC 解說。
 
從接點(diǎn)到環(huán)境所測得的資料也包含從接點(diǎn)到機(jī)殼(Theta JC)所測得的熱阻資料(圖3)。對于使用JEDEC印刷電路板(PCB)進(jìn)行測試的封裝,其中產(chǎn)生了實(shí)際的Theta JC資料。
 
但問題是,誰有時(shí)間和毅力完成所有這些分析和測試?大概只有JEDEC才會(huì)這么做!本文將說明設(shè)計(jì)人員如何在測試設(shè)計(jì)的散熱完整性時(shí)安全地省略這些步驟。
 
設(shè)計(jì)人員可藉由TI網(wǎng)站的thermaldata獲得自選封裝類型的散熱資料,并從中找到功率下降曲線、不同氣流每分鐘線性英遲(LFM)的TJA值,以及對于其自身設(shè)計(jì)相當(dāng)重要的其他模型化資料。所有這些資料將有助于裝置的溫度不超過其接點(diǎn)溫度的上限。其中特別重要的是遵循制造商的指示及JEDEC建議的封裝配置,像是采用QFN封裝。采用這些設(shè)計(jì)建議有助于設(shè)計(jì)人員實(shí)作出最佳的散熱設(shè)計(jì)。
 
在設(shè)計(jì)人員完全了解模擬散熱的全貌并驗(yàn)證了電路板配置及散熱設(shè)計(jì)后,下文將解說在不使用散熱建模軟體或熱電藕來測量實(shí)際溫度的情況下,其散熱設(shè)計(jì)實(shí)際上發(fā)揮了多少效果。資料表中所列的Theta JA額定值通常是根據(jù)JEDEC #JESD51等業(yè)界標(biāo)淮所訂定,而這些業(yè)界標(biāo)淮都是使用標(biāo)淮化配置及測試電路板。因此根據(jù)設(shè)計(jì)人員特定的印刷電路板設(shè)計(jì)需求,其散熱設(shè)計(jì)可能會(huì)有所不同,而且會(huì)有不同于標(biāo)淮的Theta JA值。
 
如果設(shè)計(jì)人員想知道其設(shè)計(jì)與最佳散熱設(shè)計(jì)在程度上有多接近,可以根據(jù)自身的印刷電路板設(shè)計(jì)進(jìn)行下列系統(tǒng)內(nèi)測試(為了測試最不理想的條件狀況,請盡量將設(shè)定的最高電壓值提高至最大)。為得到最佳的結(jié)果,可使用烤爐(非熱感應(yīng)系統(tǒng))并且僅測量電路版周圍的TA值,因?yàn)榭緺t有熱點(diǎn)。如果可能,可在電路板下方鋪上熱絕緣墊,以避免室溫空氣影響測量結(jié)果。
 
首先,在實(shí)際設(shè)計(jì)環(huán)境(印刷電路板)中找出IC的實(shí)際熱阻,然后將該數(shù)據(jù)與「理想」JEDEC數(shù)值相比較。一個(gè)具有過熱錯(cuò)誤旗標(biāo)(TEF)或類似功能,并可用來指示IC接點(diǎn)溫度過高的IC是必要的,例如德州儀器的TLC5940 LED驅(qū)動(dòng)器解決方案。一般而言,大多數(shù)IC的TJ上限(實(shí)際數(shù)據(jù)請檢查資料表)大約是150℃。對于TLC5940裝置而言,TEF將游移在150℃至170℃的TJ之間。
 
在測試中,測試電路板上特定晶片的TJ值是唯一要注意的事。在顯示所測試的特定印刷電路板具備多大熱阻抗Theta JA的等式中,這可當(dāng)作替代參考值,因此應(yīng)該足以呈現(xiàn)出散熱設(shè)計(jì)的品質(zhì)。測試多個(gè)不同的印刷電路板,可有效取樣PowerPad等部份的焊料完整性,如果晶片有某種類型的散熱片,即可正確地使用這種獨(dú)特的封裝散熱器技術(shù)。若要在其TEF可接受的條件下找出裝置的TJ上限,可將印刷電路板放入溫度箱,并且讓裝置在無負(fù)載的情況下以靜態(tài)條件進(jìn)行運(yùn)作,然后緩慢增加溫度箱的溫度,直到觸發(fā)TEF為止。觸發(fā)時(shí)的溫度箱溫度是TJ,因?yàn)門A等于TJ。此時(shí),功耗(PD)處于相當(dāng)?shù)偷撵o態(tài)程度,而可視為零功率耗損。請將此溫度記錄為TJ,這將用于后續(xù)的Theta JA等式中。
 
其次,找出電路的最大功耗PD MAX??蓪囟认涞臏囟忍嵘礁哂谫Y料表所列IC環(huán)境溫度上限大約10或15度的地步(將此溫度記錄為TA),這將使得TEF因?yàn)樽晕壹訜岫焯摗4藭r(shí)緩慢增加PD,直到TEF跳脫為止,使IC達(dá)到滿載。在TLC5940中,可以改變外部電阻R(IREF)以設(shè)定裝置的IO汲入電流。如果溫度過高的電路出現(xiàn)遲滯(hysteresis),則電路將出現(xiàn)緩慢的溫度循環(huán),此時(shí)便需要慢慢地降低PD,直到循環(huán)停止為止。此時(shí)可以將溫度箱的溫度記錄為PD MAX。
 
最后,為了得出電路板的Theta JA值,可將測得的TJ、TA及PD MAX三個(gè)值帶入以下等式中:
Theta JA = (TJ-TA)/PD MAX
如果其散熱設(shè)計(jì)良好,這個(gè)值應(yīng)該相當(dāng)接近IC資料表中的Theta JA。
幸運(yùn)的是,此種測試不需要直接測量容易產(chǎn)生測量誤差的機(jī)殼溫度(TC)或接點(diǎn)溫度(TJ)。
 
以下是一些注意事項(xiàng):
務(wù)必先將印刷電路板放在溫度箱中幾分鐘
將VSUPPLY X IQ加入理想的PD中,以考量IQ的IC功耗。這個(gè)因素可加以忽略,不過若將其納入考量會(huì)更加精淮。
 
在本文一開始提及的情況中,如果設(shè)計(jì)內(nèi)的PD接近到PD MAX,設(shè)計(jì)人員可以采取以下做法來提升設(shè)計(jì)的散熱效果:使用散熱效果更好的封裝。對TLC5940而言,具有PowerPad的HTSSOP可達(dá)到更好的效果。
 
可改善散熱設(shè)計(jì)的 TLC5940 串接應(yīng)用范例參照
圖 4:可改善散熱設(shè)計(jì)的 TLC5940 串接應(yīng)用范例參照
 
增加印刷電路板上透過PowerPad或其他散熱片進(jìn)行IC散熱的銅料厚度。
如果可能,使用流通的空氣降低IC所在環(huán)境的最高溫度。
降低裝置的PD。在測試中,有許多方式可以達(dá)到這個(gè)目的(圖4):
 
1.降低V(LED)
2.將串聯(lián)電阻加入LED電流路徑。這不會(huì)改變設(shè)計(jì)的總功耗,但是會(huì)將IC封裝的部分PD移到外部串聯(lián)電阻。
 
本文小結(jié)
精良的電路設(shè)計(jì)人員都希望實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的電子設(shè)計(jì),使其能夠處理最高環(huán)境溫度下最不理想的電壓及電流。其中一個(gè)常被忽略或較不受重視的部份是最壞運(yùn)作條件下該封裝的散熱設(shè)計(jì)完整性,這可能是設(shè)計(jì)中更重要的部份,因?yàn)檫@攸關(guān)電路的可靠性。
 
本文提出了較迅速簡易的方式,讓設(shè)計(jì)人員得以判斷自身的設(shè)計(jì)是否達(dá)到其最佳散熱效果,其中未使用繁復(fù)費(fèi)時(shí)的方法或耗費(fèi)成本的軟體分析,另外也提供了一些降低PD或減少IC封裝本身功耗的方法。希望這些方法及工具有助于設(shè)計(jì)人員確保設(shè)計(jì)的完整性,讓設(shè)計(jì)人員有更多的時(shí)間能夠處理其他電子工程方面的問題。
 
本文提出了較迅速簡易的方式,讓設(shè)計(jì)人員得以判斷自身的設(shè)計(jì)是否達(dá)到其最佳散熱效果,其中未使用繁復(fù)費(fèi)時(shí)的方法或耗費(fèi)成本的軟體分析,另外也提供了一些降低PD或減少IC封裝本身功耗的方法。


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