PCBA組裝測(cè)試
對(duì)給定相同的測(cè)試成本，電路板測(cè)試會(huì)在缺陷率和良率指標(biāo)間進(jìn)行折衷，例如，若缺陷率相當(dāng)高，大多數(shù)需要診斷。采用自動(dòng)測(cè)試儀取得電路板圖像進(jìn)行診斷較為經(jīng)濟(jì)，但使用自動(dòng)測(cè)試儀需提供電路板上全部節(jié)點(diǎn)的測(cè)試接觸點(diǎn)。這顯示至少每個(gè)布線網(wǎng)路的一個(gè)節(jié)點(diǎn)需要與自動(dòng)測(cè)試儀連接。
圖4：電路板上探針測(cè)試面的元件高度必須不超出5.7毫米，否則只有切割測(cè)試夾具后才能測(cè)試電路板測(cè)試面上的較高元件。
若缺陷率低，需要對(duì)每個(gè)缺陷進(jìn)行人工診斷，所需的時(shí)間比用自動(dòng)測(cè)試儀多。這樣減少了對(duì)良率的影響，但是節(jié)點(diǎn)測(cè)試率小于100%。理論上，如果缺陷率相當(dāng)?shù)?，就容許有0％的節(jié)點(diǎn)測(cè)試率(不需要針床測(cè)試)，只要采用簡(jiǎn)單的通與不通測(cè)試。在此，人們只要采用蝕刻的專用測(cè)試連接器，所要做的僅是扔掉不合格的組裝而不是對(duì)其進(jìn)行診斷。
決定節(jié)點(diǎn)測(cè)試率時(shí)要考慮的因素包括：1. 缺陷率；2. 診斷能力；3. 良率；4. 電路板面積；5. 電路板層數(shù)；6. 成本。
在
電路板布線設(shè)計(jì)中決定節(jié)點(diǎn)測(cè)試率時(shí)，需要在所有與人工故障查找相對(duì)應(yīng)的諸多因素之間平衡，更要考慮對(duì)制成電路板的良率的影響。除非
PCBA組裝一點(diǎn)缺陷也沒(méi)有，節(jié)點(diǎn)全測(cè)試仍舊是最理想的選擇。
應(yīng)該認(rèn)識(shí)到一旦電路板的設(shè)計(jì)完成(節(jié)點(diǎn)測(cè)試率固定)且它的測(cè)試方案也已設(shè)計(jì)，缺陷率便成為降低成本的首要因素。因此缺陷報(bào)告分析和缺陷的糾正及防止是必要的。這可以包括與供應(yīng)商建立密切的關(guān)系以減少所供元件和電路板的問(wèn)題，并減少生產(chǎn)車(chē)間內(nèi)可能會(huì)導(dǎo)致問(wèn)題的制程和作業(yè)。
組裝布線之前要解決的另一問(wèn)題是研究返工策略。由于測(cè)試內(nèi)層導(dǎo)體受到限制，多層印刷電路板的返工相當(dāng)困難甚至難以實(shí)現(xiàn)。典型的返工過(guò)程包括用特殊工具切割內(nèi)層導(dǎo)體，用可程式鉆頭對(duì)淮電路板上的作業(yè)位置，然后鉆一個(gè)可控深度的孔以脫離與內(nèi)層導(dǎo)體的連接或抬高表面封裝元件的腳。這就是為什么電路板生產(chǎn)商需要在組裝前對(duì)電路板產(chǎn)品進(jìn)行全面測(cè)試的原因，這樣就避免了已裝元件電路板在返工過(guò)程所必需的復(fù)雜測(cè)試。
對(duì)于元件密布的表面黏著電路板，有時(shí)不得不移去某個(gè)元件以進(jìn)入返工作業(yè)區(qū)(這?內(nèi)層導(dǎo)體已被切割)。SMT元件應(yīng)用規(guī)則規(guī)定：除非絕對(duì)必要，不可以從電路板上拆卸元件，這樣會(huì)降低焊盤(pán)與電路板間的附著強(qiáng)度，并會(huì)導(dǎo)致焊盤(pán)上翹。
返工策略包括：拆卸元件并重裝新元件。這樣測(cè)試通孔、焊盤(pán)形狀及與組裝相關(guān)的任何細(xì)節(jié)均需考慮，以使返工修整及維修所必須的工具具有完成它們的特殊工作的能力。
線上測(cè)試
線上測(cè)試用于發(fā)現(xiàn)印刷電路板組裝中的制造缺陷。線上測(cè)試是藉由針床夾具測(cè)試電路板的，針床夾具可與電路板組裝上的每個(gè)節(jié)點(diǎn)接觸。組裝測(cè)試是藉由逐個(gè)激勵(lì)電路板上的元件進(jìn)行測(cè)試的。線上測(cè)試對(duì)設(shè)計(jì)的限制較少，但必須設(shè)置測(cè)試接觸點(diǎn)來(lái)實(shí)現(xiàn)缺陷分析和性能不一致分析。
對(duì)不能接觸探針的信號(hào)(對(duì)無(wú)引腳元件來(lái)說(shuō)是常事)則會(huì)增加故障隔離的問(wèn)題。在此，建議在可進(jìn)行信號(hào)探測(cè)的印刷電路板的各處(除非使用掃描暫存器測(cè)試)，每個(gè)待測(cè)信號(hào)均應(yīng)具有焊盤(pán)或其他測(cè)試孔。同樣推薦的是測(cè)試點(diǎn)的焊盤(pán)應(yīng)放在柵格上，這樣探針測(cè)試可在印刷電路板的第二面進(jìn)行。如果這還不能對(duì)每個(gè)信號(hào)進(jìn)行探測(cè)的話，只有采用在特殊探測(cè)位置的特殊信號(hào)。對(duì)單個(gè)或一小組元件進(jìn)行故障隔離則必須增加測(cè)試向量或采用其他的測(cè)試技術(shù)。
許多故障經(jīng)常是因相鄰元件的管腳短路、元件管腳與電路板的外層導(dǎo)體短路或印刷電路板外層導(dǎo)體間的短路引起的。在實(shí)際的設(shè)計(jì)中，應(yīng)考慮到那些正常的生產(chǎn)缺陷，而且不影響故障隔離(這些故障因信號(hào)不能接入或不便接入引起)。為設(shè)計(jì)線上測(cè)試方案，探針焊盤(pán)的測(cè)試點(diǎn)必須在柵格上以便于自動(dòng)探針測(cè)試(圖2)。
因電性能的要求，有時(shí)需要按功能進(jìn)行設(shè)計(jì)(如類比和數(shù)位電路部份分開(kāi))。在物理層面上將不同功能的測(cè)試分開(kāi)會(huì)提高測(cè)試效率。將測(cè)試連接頭分開(kāi)或?qū)⑦B接頭內(nèi)的插芯分組會(huì)提高電路的可測(cè)性。這種數(shù)位與高性能類比信號(hào)混合的測(cè)試方案需要兩類或多種類的測(cè)試儀器。信號(hào)分離不僅有助測(cè)試夾具的設(shè)計(jì)和維護(hù)，而且有助于作業(yè)工在印刷電路板組裝上進(jìn)行故障查找。
線上測(cè)試夾具
裸板生產(chǎn)商采用的測(cè)試夾具也叫針床。然而，在布線制程末端的裸板測(cè)試中，探針是堅(jiān)硬纖細(xì)的，它們與電路板的上面和底面接觸。線上測(cè)試用的針床夾具上的測(cè)試針具有彈性，要求的測(cè)試焊盤(pán)面積較大。要記住，只進(jìn)行組裝板的單面測(cè)試會(huì)降低線上測(cè)試過(guò)程中測(cè)試夾具的成本。
下面是一組藉由驗(yàn)證的設(shè)計(jì)規(guī)則，它可降低測(cè)試夾具的成本及復(fù)雜程度：
1. 金屬化孔及測(cè)試通孔的焊盤(pán)直徑是孔尺寸的函數(shù)。探針測(cè)試專用的測(cè)試焊盤(pán)的直徑不小于0.9毫米。采用0.6毫米直徑的測(cè)試焊盤(pán)也是可行的，但對(duì)應(yīng)的電路板面積不大于0.700平方毫米。
2. 測(cè)試探針周?chē)膬艨杖Q于組裝制程。探針周?chē)鷥艨毡仨毐３譃橄噜徳叨鹊?0%，最小為0.6毫米，最大為0.5毫米(圖3)。
3. 電路板上探針測(cè)試面的元件高度必須不超出5.7毫米，否則只有切割測(cè)試夾具后才能測(cè)試電路板測(cè)試面上的較高元件。測(cè)試焊盤(pán)必須至少距高元件5毫米(圖4)。
4. 在電路板邊緣3毫米不安排元件或測(cè)試焊盤(pán)。
5. 所有探針區(qū)域必須有焊劑或?qū)щ姷姆茄趸繉?。測(cè)試焊盤(pán)上不能印制阻焊層。
6. 探針接觸點(diǎn)必須在焊盤(pán)上，不能在端點(diǎn)上、無(wú)引腳的SMT元件陣列上及引腳元件的引腳上。接觸壓力會(huì)導(dǎo)致電路開(kāi)路但這時(shí)虛焊焊點(diǎn)看起來(lái)依舊良好。
7. 必須避免用探針測(cè)試電路板的兩面?？刹捎猛讓y(cè)試點(diǎn)轉(zhuǎn)換到另一面，最好是底面(沒(méi)有元件或通孔焊接面)。這樣可以制造出可靠性高且較為便宜的夾具。
8. 若有可能采用標(biāo)淮探針和可靠性較高的夾具，測(cè)試焊盤(pán)中心孔應(yīng)為2.5毫米。
9. 不要將蝕刻的導(dǎo)電手指作為測(cè)試焊盤(pán)，因?yàn)闇y(cè)試探針很容易損壞金手指。
10. 測(cè)試焊盤(pán)應(yīng)均勻地分布在電路板上。若測(cè)試焊盤(pán)分布不均勻，或集中在某個(gè)區(qū)域，會(huì)造成電路板彎曲、探針故障和真空密封問(wèn)題。
對(duì)微間距元件來(lái)說(shuō)，要將大致一半的測(cè)試通孔放在焊盤(pán)內(nèi)，而其他一半則放在另一面的焊盤(pán)內(nèi)。這樣做的目的有兩個(gè)：
1. 不超過(guò)‘每6.5平方毫米最多100個(gè)測(cè)試點(diǎn)’的測(cè)試設(shè)備限制。
2. 展寬測(cè)試點(diǎn)分布，減小高密度分布的測(cè)試點(diǎn)壓力。在夾具的真空或機(jī)械動(dòng)作期間，這種壓力會(huì)導(dǎo)致夾具變形。
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